Визначення товщини однокомпонентних покритів методом РФА

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorХалимон, Юрій Олексійович
dc.date.accessioned2019-06-19T10:14:25Z
dc.date.available2019-06-19T10:14:25Z
dc.date.issued2019
dc.identifier.citationХалимон Ю. О. Визначення товщини однокомпонентних покритів методом РФА [Електронний ресурс] : кваліфікаційна робота освітньо-кваліфікаційного рівня бакалавр / Юрій Олексійович Халимон; наук. керівник Решетняк М. В. ; Національний технічний університет «Харківський політехнічний інститут». — I-15(ФТ)-04. — Харків, 2019. — 56 с. : іл.uk
dc.identifier.urihttp://repositorygt.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/7585
dc.language.isoukuk
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічній інститут"uk
dc.titleВизначення товщини однокомпонентних покритів методом РФАuk
thesis.degree.bachelor6.050403 інженерне матеріалознавствоuk
thesis.degree.codeI-15(ФТ)-04uk
thesis.degree.departamentФізика металів і напівпровідниківuk
thesis.degree.levelбакалаврuk
thesis.degree.trainingденнаuk

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Poiasniuvalna_zapyska_2019_Khalymon_Yu_O.pdf
Розмір:
1.08 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра «Фізика металів і напівпровідників»