Неруйнівний контроль рейок

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorСидоренко, Віталій Васильович
dc.date.accessioned2020-07-09T08:48:01Z
dc.date.available2020-07-09T08:48:01Z
dc.date.issued2020-06
dc.identifier.citationСидоренко В. В. Макет для визначення характеристик транзисторів [Електронний ресурс]: кваліфікаційна робота освітньо-кваліфікаційного рівня магістр /Віталій Васильович Сидоренко ; наук. керівник Познякова М. Є.; Національний технічний університет «Харківський політехнічний інститут».-КІТ-516зв.03.- Харків, 2020.- 57 с.: іл.uk
dc.identifier.urihttp://repositorygt.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/12193
dc.language.isoukuk
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічній інститут"uk
dc.titleНеруйнівний контроль рейокuk
thesis.degree.bachelor6.051003 приладобудуванняuk
thesis.degree.codeКІТ-516зв.03uk
thesis.degree.departamentКомп'ютерні та радіоелектронні системи контролю та діагностикиuk
thesis.degree.levelбакалаврuk
thesis.degree.programМетрологія та інформаційно-вимірювальна технікаuk
thesis.degree.specializationКомп’ютерні та радіолектронні системи контролю та діагностикиuk
thesis.degree.specialty152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна технікаuk
thesis.degree.trainingзаочнаuk

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Poiasniuvalna_zapyska_2020_Sydorenko_V_V.pdf
Розмір:
1.62 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра «Комп’ютерні та радіоелектронні системи контролю та діагностики»