Вимірювання товщини монометалічних, біметалічних виробів та їх покриттів

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorЦвєтков, Олександр Дмитрович
dc.date.accessioned2021-12-23T10:15:52Z
dc.date.available2021-12-23T10:15:52Z
dc.date.issued2021-12
dc.identifier.citationЦвєтков О. Д. Вимірювання товщини монометалічних, біметалічних виробів та їх покриттів [Електронний ресурс]: кваліфікаційна робота освітньо-кваліфікаційного рівня магістр / Олександр Дмитрович Цвєтков ; наук. керівник Семенов С. Г.; Національний технічний університет «Харківський політехнічний інститут».-КІТ-М520в.04.- Харків, 2021.- 84 с.: іл.uk
dc.identifier.urihttp://repositorygt.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/16898
dc.language.isoukuk
dc.publisherНаціональний технічний університет "Харківський політехнічній інститут"uk
dc.titleВимірювання товщини монометалічних, біметалічних виробів та їх покриттівuk
thesis.degree.codeКІТ-М520в.04uk
thesis.degree.departamentКомп'ютерні та радіоелектронні системи контролю та діагностикиuk
thesis.degree.levelмагістрuk
thesis.degree.programМетрологія та інформаційно-вимірювальна технікаuk
thesis.degree.specializationКомп’ютерні та радіолектронні системи контролю та діагностикиuk
thesis.degree.specialty152 Метрологія та інформаційно-вимірювальна технікаuk
thesis.degree.trainingденнаuk

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Poiasnivalna_zapyska_2021_Tsvietkov_О_V.pdf
Розмір:
1.21 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити

Колекції

Кафедра «Комп'ютерні та радіоелектронні системи контролю та діагностики»